多種多様なデバイスのモデリングに対応

X-tractorのモデリング対象デバイスは、MOSFET、BJT、IGBT、DIODEなど多岐にわたります。また、モデリングできるコンパクトモデルやマクロモデルも多数有り、例えばMOSFETならBSIM3、BSIM4、HiSIM-HVなど一つの素子種でも、複数のモデルを選択することができます。また、これらはモデル毎にモジュール化し、それぞれのモデルに適切な専用最適化機能を適用することで、作成したモデルの精度を高めています。

PDK向けとオンボード向けの2種類のプロダクトを用意

多数のサイズに対応しなければならないPDK用デバイスモデリングでは、サイズ依存パラメータの抽出が必要です。一方で、1サイズのみの抽出でよいオンボード用デバイスモデリングでは、サイズ依存パラメータの抽出は不要ですが、デバイスの用途に適したカスタムモデルが必要となります。そこでX-tractorはPDK用モデリング向けのX-tractor for ICとオンボード用モデリング向けのX-tractor for Discreteの2種類を用意して、用途に応じた最適なプロダクトを提供します。

強力な抽出機能

モーデック独自開発のAIエンジン搭載により、複数の電気特性をターゲットにして、効率的に高精度なパラメータを抽出することが可能です。抽出の際には、必要に応じて、「自動抽出機能」と「エキスパート抽出機能」を選択できます。「自動抽出機能」は簡単な設定を行いワンタッチで自動でパラメータを抽出を行います。「エキスパート抽出機能」はマニュアル操作でパラメータの調整を行えます。「エキスパート抽出機能」でマニュアル調整したシーケンスを用いて、「自動抽出機能」でモデリングを行うことも可能です。また、自動パラメータ抽出時の最適化処理状況をリアルタイムに確認することも可能です。

豊富なモデル検証機能

作成したモデルの妥当性を様々な角度から検証する機能があります。モデル内に記述されているパラメータには、デバイス構造や物性、物理定数などを考慮した適切な範囲や数値があります。X-tractorでは、抽出したパラメータの値がリーズナブルかを検証し、シミュレーション結果の妥当性を評価する機能を数多く搭載しています。

[パラメータ値の検証機能]
ｰ 抽出したパラメータ値の範囲検証
ｰ パラメータ値の物理的検証
ｰ コンプリメンタリなデバイス間のパラメータチェック[シミュレーション結果の検証機能]
ｰ バイアス依存性検証
ｰ サイズ依存性検証
ｰ 温度依存性検証

SPICEモデリングの利便性を高めるために
他ツールと簡単に連携できる機能を搭載

X-tractorは他のツールと連携することで、更に快適にモデリングを行うことが可能です。
[X-skew]
抽出したモデルのskewingモデルを簡単に作成することができます。オプティマイズには、モーデックが誇るオリジナルAIアルゴリズムを適用しています。また、マルチコ アにも対応しておりパラメータ抽出の高速化も可能です。
[X-verifier]
モデルのバージョン違いによる比較や異種コンパクトモデル間の比較(例えばBSIMと HiSIMなど)を行えます。また、 MATLAB付属の豊富な数学関数を使用したポストプロセ ス機能により比較結果を様々な観点から評価できます。
[X-aminer]
モデリングを行うための測定を行うことができます。また、測定したデータを簡単にX-tractorにインポートすることができます。
[RODEM]
オンボードデバイスのモデリングをデータシート記載の特性グラフから行う際に、簡 単に数値データを抽出し、 X-tractorにインポートすることができます。

コンサルティング並の技術サポート（有償）

モデリングのプロフェッショナル集団だからできるサポートがあります。豊富なモデリング実績を誇る弊社だからできる、モデリングの勘所や抽出ノウハウにまで踏み込んだサポートをご提供します。ツールの使い方はもちろんのこと、お客様が追及するモデル精度の実現をモーデックのモデリングプロフェッショナルが直接対応いたします。